Semi-automated Test Migration for BPMN-Based Process-Driven Applications

Konrad Schneid, Sebastian Thöne, Herbert Kuchen


Abstract

Automatisierte Regressionstests sind ein wichtiger Wegbereiter für das Anwenden beliebter kontinuierlicher Software-Engineering-Techniken. Dieses Papier konzentriert sich auf das Testen von BPMN-basierten Process-Driven Applications (PDA). Bei der Entwicklung von PDAs müssen die betroffenen Testfälle auch identifiziert und mitentwickelt werden. Dabei können betroffene Testfälle übersehen werden, bei der Kommunikation zwischen verschiedenen Rollen Missverständnisse auftreten, und es können Implementierungsfehler auftreten. Unabhängig von möglichen Fehlerquellen ist der gesamte Testmigrationsprozess zeitaufwändig. Dieses Papier stellt ein neues halbautomatisches Testmigrationsverfahren für PDAs vor. Das Konzept baut auf früheren Arbeiten zur Erstellung von Regressionstests mit einem No-Code-Ansatz auf. Unser Ansatz identifiziert die Änderungen des PDA und klassifiziert deren Auswirkungen auf zuvor definierte Tests. Die Einstufung zeigt an, ob der vorhandene Prüfcode automatisch migriert werden kann oder ob eine manuelle Revision notwendig wird. Während eines AB/BA-Experiments erwiesen sich das Konzept und der entwickelte Prototyp als effizienteres Testmigrationsverfahren und eine höhere Testqualität.

Keywords
Testmigration, Entwicklung der Software, Prozessgetriebene Anwendung, BPMN



Publication type
Research article in proceedings (conference)

Peer reviewed
Yes

Publication status
Published

Year
2022

Conference
International Conference on Enterprise Design, Operations and Computing

Venue
Bozen, Italien

Book title
Enterprise Design, Operations, and Computing : 26th International Conference, EDOC 2022, Bozen-Bolzano, Italy, October 3–7, 2022, Proceedings

Editor
Almeida, João Paulo A.; Karastoyanova, Dimka; Guizzardi, Giancarlo; Montali, Marco; Maggi, Fabrizio Maria; Fonseca, Claudenir M.

Start page
237

End page
254

Volume
13585

Title of series
Lecture Notes in Computer Science

Publisher
Springer

Place
Cham

Language
English

ISBN
978-3-031-17603-6

DOI