Automated Test Case Generation based on Coverage Analysis

Majchrzak T, Kuchen H



Publikationstyp
Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz)

Publikationsstatus
Veröffentlicht

Jahr
2009

Konferenz
3rd IEEE International Symposium on Theoretical Aspects of Software Engineering

Erste Seite
259

Letzte Seite
266

Ort
Tianjin, China

Sprache
Englisch