Automated Test Case Generation based on Coverage Analysis

Majchrzak T, Kuchen H

Publikationstyp

Forschungsartikel in Sammelband (Konferenz)

Publikationsstatus

Veröffentlicht

Jahr

2009

Konferenz

3rd IEEE International Symposium on Theoretical Aspects of Software Engineering

Erste Seite

259

Letzte Seite

266

Ort

Tianjin, China

Sprache

Englisch