Automated Test Case Generation based on Coverage Analysis

Majchrzak T, Kuchen H



Publikationstyp
Aufsatz (Konferenz)

Publikationsstatus
Veröffentlicht

Jahr
2009

Konferenz
3rd IEEE International Symposium on Theoretical Aspects of Software Engineering

Erste Seite
259

Letzte Seite
266

Ort
Tianjin, China

Sprache
Englisch